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纳米材料与相关器件研究部

 
仪器设备
 
1. 低噪声电学测试系统
用于微纳机、电器件在不同温度和频率下的弱信号测量的完善系统。集成有高低频滤波器以降低电学测量中的噪音干扰和电子温度、高频同轴信号线、低频直流线及其相应的电子和机械开关。

2. 超高真空电子场发射和光学联合系统
用于电子场致发射实验研究的超高真空系统和光电联合测试软硬件系统。适用于电子场致发射和电子束-微纳器件相互作用的实验研究。集成有三维压电微纳扫描平台,适用于原位扫描隧道和电子场致发射的实验研究。该系统可以与扫描电子显微镜联合使用。

3.太赫兹光学和电学联合测试系统

3.太赫兹光学和电学联合测试系统

4.微波-毫米波分析测试系统

5.通用的器件测试软件系统(GPplus)

由秦华博士编写于1998年,超强的通用性使实验测量工作的设置和运行变得非常简易迅速,极大地提高了器件测试分析的可靠性和效率。
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